四探针选型指南
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四探针电阻率方阻测试︱四探针测试仪的选择：
硅材料、ITO薄膜涂层、金属箔层镀层的电阻率︱方阻测试，四探针测试仪是四探针法测试系统的主体（主机）。主机提供测试的恒流源，测量取样电压，实现四探针法电阻率︱方阻的运算，并以适当的形式显示结果和存储数据。根据测试方式（手持式︱台式四探针，手动︱电动测试台）、测试范围、附加或特殊功能要求（是否带PC软件，单电测/双电测）等条件来选择仪器型号。
四探针测试仪是四探针法测试电阻率︱方阻测试系统的主体（主机）。主机提供测试的恒流源，测量取样电压，实现四探针法电阻率/方阻的运算，并以适当的形式显示结果和存储数据。根据测试方式（手持式/台式，手动/电动）、测试范围、附加或特殊功能要求（是否带PC软件，单电测/双电测）等条件来选择仪器型号。
主要推荐产品ST2258A多功能数字式四探针测试仪与ST2253数字式四探针测试仪，两款都可满足测试范围要求，它们特点是 ST2258A多功能数字式四探针测试仪是小型化全自动量程，并带自动分选材料功能，特别适合半导体材料或低电阻器件生产线上批量材料检测和分选；ST2253数字式四探针测试仪是带PC机软件，可在PC机上显示，分析，保存，打印数据！特适合实验室，品管部门做分析研究用！也有简易便捷的手持式M-2、M-3四探针测试仪，也有更高级的双电测四探针ST2263.
表1《四探针仪器型号规格特征选型参照表》
| 序号 | 仪器型号名称 | 特征图片 | 规格参数 | 适用场合 |
| 1 | M-2型手持式四探针测试仪 |  | 电阻0.010 ～ 9999Ω,电阻率0.010～2000Ω-cm方阻0.050～2000Ω/□ | 手持式测试，一般测试范围和要求 |
| 2 | M-3型手持式四探针测试仪 |  | 电阻0.010～99.99kΩ,电阻率0.010～20.00kΩ-cm方块电阻0.050～20.00kΩ/□ | 手持式测试，一般测试范围和要求 |
| 3 | ST2258A型多功能数字式四探针测试仪 |  | 电阻：1.0×10-3～ 200.0×105 Ω,电 阻 率：1.0×10-3～ 200.0×103 Ω-cm方块电阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□ | 台式测试要求。较高测试精度和较宽测试范围，全自动量程。带产品分类功能，不带PC测试软件。手工记录数据 |
| 4 | ST2253型数字式四探针测试仪 |  | 电 阻：1×10-4～ 2×105 Ω电阻率：1×10-4～ 2×105 Ω-cm方 阻：5×10-4～ 2×105 Ω/□ | 台式测试要求。较高测试精度和较宽测试范围，手动/自动量程。带PC测试软件，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！ |
| 5 | ST2263型双电测数字式四探针测试仪 |  | 电 阻：1×10-4～ 2×105 Ω电阻率：1×10-4～ 2×105 Ω-cm方 阻：5×10-4～ 2×105 Ω/□ | 直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！ |
| 6 | ST2254型超高阻微电流测试仪（高阻型体电阻率表面电阻率测试仪） |  | 电 阻:1.0×103 ～ 2.0×1012 Ω,电阻率:1.0×103 ～ 2.0×1012 Ω-m方块电阻:1.0×104 ～ 2.0×1012 Ω/□ | 是运用环形三电极法原理测量固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，可以兼做超高祖微电流测试仪用。 |
| 7 | ST2255型超高阻微电流测试仪（高阻型体电阻率表面电阻率测试仪） |  | 电 阻:1.0×103 ～ 2.0×1012 Ω,电阻率： 1.0×103 ～ 2.0×1012 Ω-m方块电阻: 1.0×104 ～ 2.0×1012 Ω/□ | 是运用环形三电极法原理测量固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，可以兼做超高祖微电流测试仪用。 |
| 8 | ST-11A型PN类别鉴定仪 |  | PN鉴定范围：ρ=0.01～10000 Ω-cm | 运用整流法原理鉴定半导体导电类型的仪器同时兼备测试重掺 |
| 9 | ST-12型PN类别鉴定仪 |  | PN鉴定范围：ρ=0.0001～1000Ω-cm | 运用热电势法原理鉴定半导体导电类型的仪器 |
| 10 | ST-13型导电类型鉴定仪 |  | 热电势法ρ=1×10-4～ 1.0×103 Ω-cm，整流法 ρ=1×10-2～ 1.0×104 Ω-cm | 运用热电势法原理和整流法鉴定半导体导电类型(PN类型)的仪器 |
四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择：
表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》
序号 | 型号 | 名称 | 特征图片 | 规格参数 | 选用场合 |
1 | ST2253-F01 | 钨针 直线四探针探头 | | 直线四探针 针距：1+1+1， 探针：碳化钨针 | 硅片、金属等硬材料电阻率/方阻测试 |
2 | ST2558A-F01 | 光伏电池片方阻 直线四探针探头 |
| 直线四探针 针距：2+2+2， 探针：长钢尖针 | 硅材料光伏电池片方阻测试 |
3 | ST2558A-F02 | 薄膜方阻 刀型测试台 |
| 刀型测试台 刀距100， 刀宽100 | 柔性薄膜、金属涂层膜方阻测试 |
4 | ST2558B-F01 | 薄膜方阻 直线四探针探头 |
| 直线四探针 针距：2+2+2， 探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 |
5 | ST2558B-F02 | 箔上涂层电阻率方阻 四端子探头 |
| 针距8， 直径4 探针： 圆柱平端面 |
箔上涂层电阻率/方阻测试 |
6 | ST2558B-F03 | 薄膜方阻 直线四探针探头 | | 直线四探针 针距1+1+1， 探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 |
7 | ST2571A-F01 | 薄膜方阻 矩形四探针探头 | 矩形四探针 针距1X1 探针：碳化钨针 | 硅片电阻率和方阻仪 | |
8 | ST2571A-F02 | 薄膜方阻 矩形四探针探头 |
| 矩形四探针 针距1X1 探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 |
9 | ST2571A-F03 | 薄膜方阻 矩形四探针探头 |
| 矩形四探针 针距2X2 探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 |
四探针电阻率方阻测试︱四探针测试台的选择：
四探针测试台是四探针法测试电阻率/方阻测试系统的配套部件。测试台一般用来装夹四探针探头，放置待测样品，便于快捷稳定的测试；对于特殊样品如粉末，特殊要求如橡塑材料，两探针测试法，四探针测试台与四探针探头合二为一，演变成四端子测试法。应根据样品的特性和测试要求选择测试台。
详情请见 表3《四探针测试台型号规格特征选型参照表》
序号 | 测试台型号名称 | 特征图片 | 规格参数 | 适用场合 |
1 | SZT-A型 四探针测试台 |
| 直径：Φ15～130mm 高度：H≤100mm 轴向、径向均可 |
手动式测试， 一般样品和要求 |
2 | SZT-B型电动 四探针测试台 |
| 直径：Φ15～180mm 高度：H≤100mm 轴向、径向均可 | 自动/手动一体化功能，特别适用于初次接触此类仪器，对测试压力难以手工掌握，易损坏样品的场合。
|
3 | SZT-C型快速恒压 四探针测试台 |
| 直径：Φ15～180mm 高度：H≤100mm 轴向、径向均可 | 手动式测试，SZT-A型改进版，测试压力可调并保持恒定，快速操作。 |
4 | SZT-D型粉末电阻率 四探针测试台 |
| 试样容器内径S=25px2 高度：0～20mm可调 压强量程：0～20Mpa,, | 四端子法测试粉末电阻率的必备配套单元. |
5 | SZT-E型四端子半导体 材料电阻率测试台 |
| 直径：D≤Φ100mm 高度：H≤50mm 取样压力：000.0～2000.0Kg | 四端子法测试固体样品轴向电阻率的必备配套单元 |
6 | SZT-F型光伏电池片电阻率方阻测试台 |
| 测试压力400～600g 矩形片W×H=175mmX175mm,或Φ175mm， 厚度尺寸：不调整≤2mm,调整后≤10mm |
光伏电池片方阻、电阻率的专业配套测量装置 |
7 | SZT-G型橡塑材料电阻率方阻测试台 |
| 厚度d<10mm,宽w<50mm ⑴电压刀片间距：20mm，刀长60mm ⑵电流刀片间距： 70mm，刀长60mm | 四端子测量原理的专业测量橡塑材料或半导体薄膜的电阻率/方阻的多用途综合测量装置. |
8 | SZT-H型金属质量电阻率测试台 |
| 测量膜宽：1mm≤B≤50mm ⑴电压刀片间距：150mm刀刃长60mm ⑵电流刀片间距：300mm刀刃长60mm | 专业测量金属箔类（质量）电阻率/方阻的多用途综合测量装置。 |
9 | SZT-K1型两探针电阻率测试台 |
| 两探针针距：10mm,15mm,20mm可调 可测样品：直径圆截面≤ Φ50mm，或方截面边长≤50mm×50mm。 长(或高)度:两端面顶持方式L≤420mm, 侧面夹持方式不限 | 进行两探针法电阻率测试的机具。 |
